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金华ICT在线式测试设备 苏州市德智电子供应

信息介绍 / Information introduction

系统可以在不上电的条件下测试整块电路板和个别元器件。它使用直流或复杂阻抗的测量结合多点隔离等先进的测量技术,能找到大多数的问题,如短路、开路或者错件等。能在不上电的安全模式下找到主要的错误,又能给出具体的故障诊断信息,提高了维修的效率。 测试系统可以配置 200 到 2000 个测试点,金华ICT在线式测试设备。TR-10 测试系统可以加置 功能模块,用于功能测试。大多数标准配置的测试系统包括用于额外隔离电流和继电器驱动测试的功能模块 选择性 CM-3 校准验证模块也可用在 TR-10 系统,金华ICT在线式测试设备,以验证TR-10 模块的准确性。如果需要打印出的测试报告,金华ICT在线式测试设备,也可提供 CheckSum 可选择的打印机。TR-10 ICT/MDA 测试可检测出SMT元器件的开路和可选用 Agilent TestJet 技术检测电容的极性。MultiWriter 在系统编程也可用于适用于此技术的板子。 在线自动测试系统可分为在线测试(ICT)和功能测试(FCT)两大类。金华ICT在线式测试设备

ICT在线烧录工作原理 设置结果信号采样时间,设计结果信号启动延时时间。 在ICT+IC烧录开始的时候,可以提供一个长度可以设定的方 波,(高电平脉冲,低电平脉冲)。 开始信号提供后,延时结果信号启动延时时间后,启动读 结果信号。 在结果信号的采样时间内,如果结果信号读取响应的与脱 机IC烧录器IC烧录结果相对应的结果,(高低电平信号, 上升沿下降沿信号)表示IC烧录成功,在结果信号的采样 时间内没读取相应的结果信号,表示IC烧录失败。 在界面中反馈为相应的是IC烧录失败成功界面。 上海ICT仪器厂家测试部门往往对于灵活配置、设计紧凑且功能完备的测试设备青睐有加。

IC烧录 启动电平: 正脉冲:(脉冲时为低电平,其他时间为高点平(3.3v)因为输出芯片是 反向2803) 负脉冲:(脉冲时为高电平,其他时间为低电平(0.7v )) ² 烧录 结果电平:(一般用的是烧录Ok信号) 高电平:外部提供一个高电平时,判断为收到烧入完成正常信号。 低电平:外部提供一个低电平时,判断为收到烧入完成正常信号。 上升沿:外部提供一个上升沿时,判断为收到烧入完成正常信号。 下降沿:外部提供一个下降沿时,判断为收到烧入完成正常信号。 IC烧录启动脉冲宽度:单位是毫秒,正常来说是提供50ms宽度,使用 者可以根据实际情况进行自行判断调整, ² IC烧入结果读取延时;单位是毫秒,主要作用是屏蔽程序IC烧录上电的 那部分时间不稳定性干扰,或者上次烧入的结果对这次的影响。使用 者可以根据实际情况进行自行判断调整,延时时间不能长于烧录时间, 不然判断不到结果。

ICT在线测试机的优点 1. 产量增加:ICT在线测试仪的检测速度非常快,如300个元件的线路板约3秒钟全部检测,比人工检测时间缩短,产量可提高。 2. 降低成本: A. 使维修工作简单化,维修速度加快,减少维修人员,降低维修成本 B.降低因误判而损坏的元件成本 C.减少维修备品库存 3. 使产品一次良品率提高:提供大量的统计数据,以便生产管理者对生产工艺进行及时监督,调整,管理。 4. 减少误判错误:ICT对错误检测将准确稳定,避免人员对故障的错误猜测。 5. 减少操作费用:ICT是一次性对整板进行测试,也可以同时测试多块联板,只需一个操作员工。 6. 产品经过ICT测试以后,为后段的功能测试扫除一切隐藏性问题. 7. 现代化的电子生产线,拥有ICT进行测试,是产品质量优良的卡片!是您接单的得力助手,是客户发单的信心保证 接驳台整机技术特点:设置有经济运行,过板自动。

ict里面会包含如下三个测试项目。OpenTest:开路测试是要测出待测电路板上预期(Expected)短路的元件是否因错件或漏件而造成开路。ShortTest:短路测试是要测试出待测电路板上不被预期的(Unexpected)短路现象。MDATest:ManufacturingDefectsAnalysis工程缺陷分析,电阻、电容、电感等被动元器件的量测。提到MDAtest,我其实有幸见识到华硕电脑的MDAtest,华硕是单独测试mda的,也是通过压合留有卡槽的载板使顶针接触板子测试点。ICT的范围及特点检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。Inline系统实现了设计紧凑,节省产线宝贵空间。smt贴片ICT在线测速

ICT是一种标准测试手段。金华ICT在线式测试设备

通过一个隔离运算放大器使G与F等电位。ICT测试仪可提供很多个隔离点,消除电路对测试的影响。IC的测试对数字IC,采用Vector(向量)测试。向量测试类似于真值表测量,激励输入向量,测量输出向量,通过实际逻辑功能测试判断器件的好坏。如:与非门的测试对模拟IC的测试,可根据IC实际功能激励电压、电流,测量对应输出,当作功能块测试。2非向量测试随着现代制造技术的发展,超大规模集成电路的使用,编写器件的向量测试程序常常花费大量的时间,如80386的测试程序需花费一位熟练编程人员近半年的时间。金华ICT在线式测试设备

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