众所周知，在离开被测目标3λ～5λ（λ为工作波长）距离上测量该区域电磁场的技术称为近场测量技术。如果被测目标是辐射器，则称为辐射近场测量；若被测目标是散射体，则称为散射近场测量；对测得散射体的散射近场信息进行反演或逆推就能得到目标的像函数，这就是目标近场成像。但是，截止目前为止，关于辐射、散射近场测量以及近场成像技术溶为一体的综述性文章还未见到公开的报导，这对从事这方面研究的学者无疑是一种遗憾。为使同行们能全部地了解该技术的发展动态，深圳三维电磁近场扫描，该文概述了近几十年来关于辐射，深圳三维电磁近场扫描，深圳三维电磁近场扫描、散射近场测量及近场成像技术前人所做的工作及其新的进展，并指出了未来研究的主要方向。在离开被测目标3λ～5λ（λ为工作波长）距离上测量该区域电磁场的技术称为近场测量技术。深圳三维电磁近场扫描

三维近场扫描系统，包括采集电磁波信号的采集单元、与所述采集单元连接并将所采集到的电磁波信号转化为数字信号的分析单元、驱动所述采集单元移动以采集空间各点的电磁波信号的移动单元、与所述分析单元连接并处理所述数字信号的处理单元以及控制所述移动单元的控制单元，还包括检测所述系统运行工作状态的传感单元和在所述传感单元检测到所述系统处于异常工作状态时发出警报的报警单元。在本发明的三维近场扫描系统中，所述传感单元为装在所述移动单元上的温度传感器和/或置于空间中的湿度传感器。深圳便携式电磁近场扫描方案系统频率变化发生在额定时钟中心频率（中心扩频调制）附近，扩展的频谱为正或负1.0%（fdev）。

辐射杂散(RSE)近场电磁扫描诊断分析：可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统支持频率范围9kHz-40GHz的射频辐射杂散（RSE）近场分析，使用电场近场探头(H-Probe)、高低频磁场近场探头(H-Probe)，支持0.01mm分辨率步进电磁扫描，支持-90dBm以上辐射杂散信号分析。支持频率分布、功率分布、频谱分布、谐波分布等多辐射杂散RSE可视化分析功能，满足研发级正向设计、整机、板级、芯片的辐射杂散问题自动诊断分析，普遍用于手机、多媒体设备、无线终端模块、医疗、、仪器仪表等行业的电磁兼容可靠性正向研发、辐射杂散评估、辐射杂散干扰源头定位、替代物料辐射杂散评估、器件选型辐射杂散评估、成本降低辐射杂散性能评估、更新方案设计的辐射杂散性能评估、电磁仿真验证等方面。

近场扫描测试能计入环境影响吗?近场测试是测的近场的表面电流,或者说很近的电磁场,然后再计算成远场的方向图,这显然是无法考虑附近金属体的影响的,其实近场测试只是对方向性高的阵列天线比较适用,到了边上的话计算出的场也是不准的,需要校准.我觉得如果你把金属考虑进去,一起测试比如一块大的ground,那也会是比较准确的。通过上述实施方式,其具有X、Y、Z及极化轴四轴运动能力,可以有效捕捉水平方向传播的波谱信息,能够容易地调整扫描架与待测设备之间的距离,自动化程度高,测试效率高。避免远场测量的空气衍射问题：大型扬声器的远场测量需要大型消声室以确保远场条件。

极近场扫描系统完成了空间和频谱扫描后显示并生成了以下辐射特性图。需注意的是，扫描结果叠加在Gerber设计文件上，因此这样对结果进行分析可以立即确定待测器件中的具体辐射体。为了实现这个目标，设计团队首先在SSCG功能为“关”的情况下将待测器件（DUT）放其内部扫描仪上，加电，然后在PC中捕获辐射特性。为了进行有效的对比，在打开SSCG功能的情况下，对同一待测器件进行了扫描。为SSCG功能为“开”时待测设备辐射的空间和频谱（幅度与频率）特性。通过对比，可以发现辐射已经显着减少。若被测目标是散射体，则称为散射近场测量。深圳三维电磁近场扫描

一种近场平面扫描架，其特征在于，包括：一支架。深圳三维电磁近场扫描

极近场EMI扫描技术：扫描系统由一个扫描仪、小型适配器、一个客户提供的频谱分析仪和运行扫描系统软件的PC组成。台式扫描仪包括2，436条回路，可产生1，218个间隔为7.5mm的磁场探针，形成一个电子开关阵列并提供高达3.75mm的分辨率。系统工作频率范围为50kHz至4GHz，通过可选的软件密钥启用。这样，用户就可以自行对设计进行测试，而不必依赖另外一个部门、测试工程师或进行耗时的场外测试。工程师甚至可以在诊断一个间歇故障之后，对设计进行更改，很快再进行测试。测试的结果可以对设计更改的影响进行精确的验证。借助扫描系统，电路板设计工程师可以预先测试和解决电磁兼容问题，从而避免产生非预期的一致性测试结果。扫描仪的诊断功能可以帮助设计团队将辐射测试时间缩短两个数量级以上。深圳三维电磁近场扫描

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