PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差，是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备；并提供不同型号，供客户进行选配。
设备主要运用于：偏光片，盖板玻璃，双折射材料，离型膜，补偿膜，其他光学材料的测试中。可解析多层相位差，主要测试项目包括：吸收轴角度，偏光轴角度，快轴，慢轴角度，波长分散性，苏州补偿膜偏光片贴合角测试仪，三次元折射率，苏州补偿膜偏光片贴合角测试仪，相位差R0/Rth（0~20000nm）,透过率，色度，苏州补偿膜偏光片贴合角测试仪，偏光度。 狹缝:可 选择狭缝宽度(25um、 50um、100um、 200um )。苏州补偿膜偏光片贴合角测试仪
相位差测试仪应用于电力线路、变电所的相位校验和相序校验，具有核相、测相序、验电等功能。具备很强的抗干扰性，适应各种电磁场干扰场合。被测高电压相位信号由采集器取出，经过处理后直接发射出去。由***接收并进行相位比较，对核相后的结果定性。因本产品是无线传输，真正达到安全可靠、快速准确,适应各种核相场合。两个频率相同的交流电相位的差叫做相位差，或者叫做相差。这 两个频率相同的交流电，可以是两个交流电流，可以是两个交流电压，可以是两个交流电动势，也可以是这三种量中的任何两个。两个同频率正弦量的相位差就等于初相之差。是一一个不随时间变化的常数。苏州偏光片贴合角测试仪公司公司主要的经营范围为光电材料、电子科技、软件科技领域内的技术开发。
在离中心频率一定合理距离的偏移频率处，边带功率滚降到1/fm，fm是该频率偏离中心频率的差值。相位噪声通常定义为在某一给定偏移频率处的dBc/Hz值，其中，dBc是以dB为单位的该频率处功率与总功率的比值。一个振荡器在某一偏移频率处的相位噪声定义为在该频率处1Hz带宽内的信号功率与信号的总功率比值。相位差两个频率相同的交流电相位的差叫做相位差，或者叫做相差。这两个频率相同的交流电，可以是两个交流电流，可以是两个交流电压，可以是两个交流电动势，也可以是这三种量中的任何两个。例如研究加在电路上的交流电压和通过这个电路的交流电流的相位差。如果电路是纯电阻，那么交流电压和交流电流的相位差等于零。也就是说交流电压等于零的时候，交流电流也等于零，交流电压变到比较大值的时候，交流电流也变到比较大值。这种情况叫做同相位，或者叫做同相。如果电路含有电感和电容，交流电压和交流电流的相位差一般是不等于零的，也就是说一般是不同相的，或者电压超前于电流，或者电流超前于电压。相位测量当今，相位的测量需求日益增长。高精度测距大多采用的是激光相位式测距。相位式测距是通过测量连续的幅度调制信号在待测距离上往返传播所产生的相位延迟。
主要精度数据：
测试对象：偏光片，相位差膜，光学膜
测试项目：偏光度，透过率(单体/平行/直交)，色度，相位差（R0/RTH），轴角度，吸收轴角度，消光比
注：测试可选择高精度模式和快速模式
整机尺寸：根据客户样品尺寸定制
对应样品尺寸：可定制
测试光斑：约5mm
轴角度测量范围：0°~180°
偏光度
重复性 ：３σ≦０．００１%
可实现指定波长透过率测量
轴角度精度：±0.05°（高精度模式）
测量重复性：0.02° （高精度模式）
相位差测亮范围：0~20000nm
相位差重复性精度：３σ≦０．１nm；
测量波段：400nm~800nm
倾斜旋转台规格：傾斜角度范围：－60°～＋60°**小角度：０．１°
旋转角度范围：－180°～＋180°
旋转**小角度：０．１° 测量波段：550nm单波段，上料方式：手动上料。
相位测量技术的研讨由来已久，**早的研讨和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面，随之在电力部分、机械部分、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到注重和展开。跟着电子技术和计算机技术的展开，相位测量技术得到了灵敏的展开，现在相位测量技术已较完善，测量方法及理论也比较老练，相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测:量技术的展开可分为三个阶段:***阶段是在前期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等，虽然方法简略，但测量精度较低;第二阶段是运用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、 DSP等构成测相系统，使测量精度得以**提高;第三阶段是充分运用计算机及智能化虚拟测量技术，然后**简化规划程序，增强功用，使得相应的产品精度更高、功用更全。一起，各种新的算法也随之出现。相位差测试仪：拉伸膜相位差测试仪 。苏州补偿膜偏光片贴合角测试仪
专业性:光学博士团队合力研发，追求国产替代。苏州补偿膜偏光片贴合角测试仪
光谱仪参数
探测器类型: HAMATSU光电二极管阵列
像素点： 2048
光栅： 全息平场凹面衍射光栅
狭缝： 可选择狭缝宽度（25um、50um、100um、200um）
光谱范围： VIS：400--800nm
UV-VIS:190--800nm
光学分辨率： VIS：1.5nm（100um狭缝）
UV-VIS:1.5nm（100um狭缝）
波长精度： ±0.2nm
光谱杂散光： <0.05%（400nm）
信噪比： 2000：1
AD分辨率： 16bit
积分时间： 0.1ms--60s
供电： 5V/220mA
通讯接口： USB2.0（480Mbps）
解析多层相位差：相位差（0~20000nm）
吸收轴角度/偏光轴角度
透过率，色度（La、b），偏光度
快轴慢轴角度
单波段（550nm为主）/多波段测试（380nm~nm为主）
内应力（此功能软件开发中） 苏州补偿膜偏光片贴合角测试仪
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