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深圳芯片EMI诊断传导发射测试 来电咨询 扬芯科技供应

信息介绍 / Information introduction

频谱分析仪对几种传导发射的测试能够象辐射发射测试那样设成自动,并通过计算机对数据作图、列表。同时频谱分析仪在手动模式下也是一种有用的诊断工具。在显示屏上可以观察到相对较宽的扫描频段,同时相应的限值显示在显示屏上,以便很快地与发射电平做比较。频谱限值包含了电流探头或LISN修正因子,同时频谱分析仪显示单位也随之相应转变。故障处理的结果可以在显示屏上很容易地观察到,深圳芯片EMI诊断传导发射测试。传导发射信号的特征可以用与辐射同样的方法得到,深圳芯片EMI诊断传导发射测试。故障处理的方法通常是滤波,但在1MHz以上时,问题通常由辐射发射的耦合而引起,因此,深圳芯片EMI诊断传导发射测试,许多用于压制辐射发射的故障检修技术也被采用。在EMI,工程师从来无法完全掌握可能存在什么信号。深圳芯片EMI诊断传导发射测试

视频滤波法:视频滤波有助于观察宽带噪声中是否有窄带信号。滤波使得宽带减弱,而窄带幅值电平保持不变。变换扫描时间法:这种方法可用于在频谱分析仪显示屏上观测一组脉冲。频谱分析仪每格间隔的宽度应设置得使谱线间的间距可以被观察到。通过改变频谱分析仪的扫描时间,谱线的间隔可能变也可能不变。如果屏蔽上间隔宽度保持不变,则信号是窄带;如果间隔宽度改变了,则信号被认为是宽带。调谐测试法:在使用适当的分辨带宽的情况下,窄带信号实际上是相对于频谱仪而言是窄的。因此,当改变或调谐频率峰值标记时窄带信号的幅值将或左或右地明显偏离窄带信号的峰值。当很大峰值的变化大于3dB/两个脉冲带宽频变时,则信号被认为是窄带信号,否则被认为是宽带。深圳GB9254EMI诊断作用在审查设计并试图判断问题源时,理解测试室如何生成这种报告是很有帮助的。

接下来做什么?电源是EMI干扰噪声的主要来源,示波器的电源谐波分析在这类排查工作中很有潜力。我们不久将讨论这一方面的内容。排查EMI是否一致的四种基本方法:全世界几乎所有有关部门都在尝试控制他们国家生产的电子产品产生的有害电磁干扰(EMI)。为了向用户提供一定的保护和安全等级,有关部门都会制订涉及电子产品设计的非常特殊的一些规则和规定。当然这是好事。但这也意味着为了尽量减少他们的EMI特征并通过官方的EMI认证测试,许多公司必须在产品设计和测试方面花费大量的人力物力。坏消息是,即使采用了好的设计原理、选择了高质量的元件并且仔细地表征了产品,当进行一致性测试时,如果测试并不是所有阶段都进展顺利,那么EMI故障仍有可能影响到产品的发布日程。

近场测量是可用于EMI排查的一种测量,因为它不要求测试站点提供专门的条件就能让你查出能量源。然而,一致性测试是在远场中进行的,而不是近场。你通常不会使用远场,因为有太多的变量让它变得复杂起来:远场信号的强度不只取决于源的强度,而且取决于辐射机制以及可能采取的屏蔽或滤波措施。根据经验需要记住,如果你能观察远场中的信号,那么应该能看到近场中的相同信号。(然而,能观察到近场中的信号而看不到远场中的相同信号是很可能的)近场探针实际上就是设计用于拾取磁场(H场)或电场(E场)变化的天线。一般来说,近场探针没有校准数据,因此它们适合用于相对测量。起初接触产品EMI对策修改时﹐会听到很好EMI工程师说把所有EMI对策拿掉﹐就可以通过测试。

测试室为出EMI报告而开展的扫描通常是在特殊条件下进行的,你的公司实验室也许无法复制这些条件。举例来说,待测设备(DUT)可能放在一个转盘上,以便于从多个角度收集信号。这种方位角信息是很有用的,因为它能指示问题发生的DUT区域。或者EMI测试室可能在校准过的射频房内开展他们的测量,并报告作为强场的测量结果。幸运的是,你并不需要完全复制测试室的条件才能排查EMI测试故障。与在高度受控的EMI测试线上执行的一定测量不同,可以使用测试报告中的信息、深入理解用于产生报告的测量技术以及对待测设备周边的相对观察以隔离问题源并估计纠正有效性来开展问题的排查工作。一般来说,近场探针没有校准数据,因此它们适合用于相对测量。深圳芯片EMI诊断传导发射测试

并不需要完全复制测试室的条件才能排查EMI测试故障。深圳芯片EMI诊断传导发射测试

我们将初步的诊断步骤详列于下﹐并加以说明其关键点﹐这些步骤看来似乎非常平凡简单﹐不像介绍对策方法各种理论秘籍绝招层出不穷﹐变化奥妙。其实﹐许多很好EMI工程师在其对策处理时﹐大部份的时间都在重复这些步骤与判断。笔者要再次强调﹐只有真正找到造成EMI问题的关键﹐才是解决EMI的好的途径﹐若只凭理论推测或经验判断﹐有时反而会花费更多的时间和精力。将桌子转到待测(EUT)很大发射的位置﹐初步诊断可能的原因﹐并关掉EUT电源加以确认。深圳芯片EMI诊断传导发射测试

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