相比而言，要在第三方测试箱中测试新设计，就要求工程师前往场外测试场所，深圳仪器仪表近场辐射扫描仪，并会耗费大半天的时间。使用测试箱往往需要提前几周安排，这会给开发过程带来极大的延误。极近场扫描解决方案不会替代在测试箱中测试设计的需求。不过，这种仪器可以在简便的桌面系统中实现快速的前后一致性测试功能，深圳仪器仪表近场辐射扫描仪。与在测试箱中进行的远场测量相比，极近场EMI特性可以提供实时反馈。此外，这些测量结果与在测试箱中测得的远场测量结果具有很高的相关性。因此，诸如EMxpert等极近场仪器可以减少在测试箱中进行类似测试的数量。总之，这可以帮助设计团队加快测试进程，更快地得到测试箱测试的一致性测试结果，深圳仪器仪表近场辐射扫描仪。无功近场区：又称为电抗近场区，是天线辐射场中紧邻天线口径的一个近场区域。深圳仪器仪表近场辐射扫描仪

散射近场测量：当辐射体变为散射体时，辐射近场测量转换为散射近场测量。由于散射体是无源的，因此需要一个照射源对其进行照射，同辐射近场测量一样，散射近场测量也有3种取样方式，分别称为平面散射近场测量和柱面散射近场测量以及球面散射近场测量。平面散射近场已取得了许多研究成果，柱面、球面散射近场测量的研究成果公开报道的文献很少。散射体的散射特性通常用雷达散射截面（RadarCrossSection，简写为RCS）来衡量，有一定量和相对量之分，一定量一般是以一个已知散射体的RCS为标准来标定待测散射体的RCS，标准值来自理论计算和测量值；相对量用散射方向图来表示。深圳可视化近场辐射测试方法按照与天线距离的远近，又把辐射场区分为辐射近场区和辐射远场区。

个人辐射剂量仪是一款小型高灵敏度的个辐射剂量报警仪，采用了型的低功耗嵌入式微处理器作为数据处理单元，探测器采用的是高灵敏的GM计数器。仪器具有响应快，测量范围宽,应用范围广的特点。可监测X、γ射线和硬β射线，是一款通用型辐射剂量测量仪。个人辐射剂量仪特点：1、监测X、γ及硬β射线。2、仪器灵敏度高，对环境本底亦可测量；3、中、英文双语操作界面。4、剂量率和累积剂量同时测量和显。5、掉点后数据保存不丢失。6、图形式液晶显示，屏幕很大。7、功耗低，有电池欠压指示功能。8、仪器可预置剂量率和累积剂量报警阈值

辐射近场测量的研究起始于50年代，70年代中期处于推广应用阶段（商品化阶段）。目前，分布在世界各地的近场测量系统已有100多套。该技术的基本理论已基本成熟，这种测量方法的电参数测量精度比常规远场测量方法的测量精度要高得多，而且可全天候工作，并具有较高的保密性，因此，在民用中都显示出了它独特的优越性。辐射近场测量研究的主要成果，几十年来，辐射近场测量的研究在以下4个方面取得了突破性的进展：常规天线电参数的测量，天线近场测量可以给出天线各个截面的方向图以及立体方向图，可以分析出方向图上的所有电参数（波束宽度、副瓣电平、零值深度、零深位置等）和天线的极化参数（轴比、倾角和旋向）以及天线的增益。和近场类似，远场的起始也没有统一的定义。

传统的EMI辐射测试往往借助EMI接收机，在专业实验室的暗室里进行，这固然可以对产品的整体EMI辐射做严格的测试，但往往测试周期长、费用较高，加之远场测试只能测出结果，而不能给出具体辐射的位置，所以给产品的设计和改善带来不小的麻烦。随着测试测量仪器的发展，近几年，近场探头和频谱分析仪的组合个EMI辐射的测试定位带来了新的方向。为采用一个近场探头和实时频谱分析仪对一个电路进行辐射源的查找，我们可以很清楚的观测到在近场探头附件有四个主要频率的辐射，这对于硬件工程师进行设计的改善是具有极大帮助的。近区场的电磁场强度随距离的变化比较快，在此空间内的不均匀度较大。深圳可视化近场辐射测试方法

远区场为弱场，其电磁场强度均较小。深圳仪器仪表近场辐射扫描仪

柱面辐射近场测量能够计算天线全部面的辐射方向图，但在θ=-90°或90°时，柱面波展开式中汉克尔函数已无意义，所以，柱面辐射近场测量适用于天线方向图为扇形波束天线的测量。球面辐射近场测量能够计算除球心以外天线任意面上任意点的辐射场，但测量及计算时间都较长。辐射近场测量的基本理论虽然已经成熟，且在实用中也取得了较多的研究成果，但对以下问题还应进行进一步的探讨研究：考虑探头与被测天线多次散射耦合的理论公式。所有的理论公式都是在忽略多次散射耦合条件下而得出的，这些公式对常规天线的测量有一定的精度，但对低副瓣或很低副瓣天线测量就必需考虑这些因素，因此，需要建立严格的耦合方程。深圳仪器仪表近场辐射扫描仪

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