众所周知，在离开被测目标3λ～5λ（λ为工作波长）距离上测量该区域电磁场的技术称为近场测量技术，深圳电子近场扫描。如果被测目标是辐射器，则称为辐射近场测量；若被测目标是散射体，则称为散射近场测量；对测得散射体的散射近场信息进行反演或逆推就能得到目标的像函数，这就是目标近场成像。但是，截止目前为止，关于辐射、散射近场测量以及近场成像技术溶为一体的综述性文章还未见到公开的报导，这对从事这方面研究的学者无疑是一种遗憾。为使同行们能全部地了解该技术的发展动态，该文概述了近几十年来关于辐射、散射近场测量及近场成像技术前人所做的工作及其新的进展，深圳电子近场扫描，并指出了未来研究的主要方向，深圳电子近场扫描。如果被测目标是辐射器，则称为辐射近场测量。深圳电子近场扫描

借助扫描系统，电路板设计工程师可以预先测试和解决电磁兼容问题，从而避免产生非预期的一致性测试结果。扫描仪的诊断功能可以帮助设计团队将辐射测试时间缩短两个数量级以上。某一大型半导体厂商在解串器的并行总线上实现了SSCG功能。SSCG功能能够通过将辐射峰值能量扩展到更宽的频带上来减少辐射。，频率变化发生在额定时钟中心频率（中心扩频调制）附近，扩展的频谱为正或负1.0%（fdev）。在接收器并行总线端，输出以千赫兹（fmod）的调制速率随时间调制时钟频率和数据频谱。定制的串行解串器芯片组的目标客户是要求所安装电子设备具有低EMI辐射特性的汽车厂商。深圳电子近场扫描在第三代芯片组中，设计团队采用了一种不同的技术并升级了传输能力。

提供一种电磁场近场扫描装置与扫描方法,扫描装置结构简单,通过探头实现对待测物品的电磁场近场数据的准确采集,通过空间移动平台和计算机协调工作实现对探头位置的准确控制,通过显微摄像装置准确监测探头与待测物品之间的距离,从而能够准确获得待测物品的电磁场近场扫描结果,另外,探头在扫描待测物品电磁场近场时,采用逐点扫描,实时采集传输,即每一次探头移动,均采集一次数据并及时将采集到的数据发送至信号分析装置,避免扫描过程中,扫描装置自身对待测物品电磁场近场的影响,以及数据采集延时对信号准确度的影响,从而更进一步提高了扫描的精度和扫描结果的准确度。

近场扫描测试系统：对天线近场区（离开天线几个波长范围）的电磁场分布进行测量，然后利用有关的电磁场定律，通过严格的数学变换，得到待测天线在远场任意角域的电磁场分布。天线的近场测量技术的主要优点主要有：由于可以在室内进行测试，因而摆脱了远场测试场地、天气、安全性和恶劣电磁环境干扰的问题。易于控制多路径效应造成的测试误差。易于架设待测天线，待测天线不做相对运动，适宜大口径天线的测试。可以实现对天线口径分布的诊断，尤其适用于相控阵天线的口径校准与测试。在离开被测目标3λ～5λ（λ为工作波长）距离上测量该区域电磁场的技术称为近场测量技术。

一种电磁场近场扫描装置，包括探头、空间移动平台、显微摄像装置、信号分析装置和计算机；所述探头和所述计算机分别与所述信号分析装置连接，所述空间移动平台和所述显微摄像装置分别与所述计算机连接，所述探头固定于所述空间移动平台；所述计算机发送指令，控制所述空间移动平台空间移动，固定于所述空间移动平台的探头移动，逐点扫描待测物品的电磁场近场，实时采集待测物品电磁场近场的电信号数据，并将采集到的电信号数据发送至所述信号分析装置，所述信号分析装置分析所述电信号数据，获取信号测量数据，并将所述信号测量数据发送至所述计算机，所述显微摄像装置监测所述探头与所述待测物品之间的距离，并将监测获得的距离数据发送至所述计算机，所述计算机根据所述信号测量数据和所述距离数据，处理获得待测物品的电磁场近场扫描结果。设计工程师可以在采取了相应的解决措施之后，对器件进行重新测试并立即量化出校正设计后的效果。深圳电子近场扫描

近场测试只是对方向性高的阵列天线比较适用。深圳电子近场扫描

近场扫描系统的制作方法：测量一件介质板对电磁波的响应特征，需要用一个馈源发射电磁波，然后用一个采集设备来采集馈源发出的电磁波穿过该介质板后的电磁波其空间各个点的电磁特性，然后利用处理设备将检测到的空间各点的电磁特性值记录下来并进行分析，通过对比有、无介质板电磁参数特性的变化，推导出介质材料对电磁波的响应特性。以上过程需要通过三维近场扫描系统完成。现有的三维近场扫描系统，馈源、介质板及采集单元的位置都是手工调节的，测试效率低，定位又不准确。深圳电子近场扫描

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