EMI近场辐射特性：新一代串行解串器例子这是同一家半导体供应商的第二个例子，该公司开发了一个通过串行解串器进行点到点传输的第二代芯片组解决方案。在第三代芯片组中，设计团队采用了一种不同的技术并升级了传输能力。他们将双向控制通道一起嵌入高速串行链路中，从而实现了双向传输（全双工）。对测试结果进行比较之后，设计团队发现由于使用了SSCG功能导致电磁辐射显着减少。汽车电子工程师很大的挑战在于减少EMI辐射，深圳电子近场扫描，深圳电子近场扫描，深圳电子近场扫描。客户支持团队每次向汽车厂商客户展示这些结果时，他们普遍都表现出了极大的兴趣。任何降低EMI的功能（此案例中为SSCG功能）都可以缩短上市时间、降低屏蔽和成本支出。在第三代芯片组中，设计团队采用了一种不同的技术并升级了传输能力。深圳电子近场扫描

为了量化比较半双工解串器与新一代全双工设计的辐射特性，设计团队再次使用了内部的EMI极近场扫描仪。他们将原来的半双工板放在扫描仪上，进行基线测量。对待测器件加电后，他们在PC上开启了扫描仪。这是同一家半导体供应商的第二个例子，该公司开发了一个通过串行解串器进行点到点传输的第二代芯片组解决方案。在第三代芯片组中，设计团队采用了一种不同的技术并升级了传输能力。他们将双向控制通道一起嵌入高速串行链路中，从而实现了双向传输（全双工）。深圳电子近场扫描高信噪比：近场中声压级高，对环境噪声的要求不需要太严格。

快速磁性极近场测量仪器可以捕获和显示频谱和实时空间扫描结果的可视图像。芯片厂商和PCB设计工程师可以扫描任何一块电路板，并识别出50kHz至4GHz频率范围内的恒定或时基的辐射源。这种扫描技术有助于快速解决普遍的电磁设计问题，包括滤波、屏蔽、共模、电流分布、抗干扰性和宽带噪声。在任何新PCB的开发过程中，设计工程师都必须找出设计之外的辐射体或射频泄漏，并对其进行描述和处理以通过一致性测试。可能的辐射体包括高速、大功率器件以及具有高密度或高复杂度的器件。扫描系统以叠加在Gerber文件上的形式显示空间辐射特性，因此测试人员可以准确地找出所有辐射问题的来源。设计工程师可以在采取了相应的解决措施之后，对器件进行重新测试并立即量化出校正设计后的效果。

极近场EMI扫描技术：扫描系统由一个扫描仪、小型适配器、一个客户提供的频谱分析仪和运行扫描系统软件的PC组成。台式扫描仪包括2，436条回路，可产生1，218个间隔为7.5mm的磁场探针，形成一个电子开关阵列并提供高达3.75mm的分辨率。系统工作频率范围为50kHz至4GHz，通过可选的软件密钥启用。这样，用户就可以自行对设计进行测试，而不必依赖另外一个部门、测试工程师或进行耗时的场外测试。工程师甚至可以在诊断一个间歇故障之后，对设计进行更改，很快再进行测试。测试的结果可以对设计更改的影响进行精确的验证。借助扫描系统，电路板设计工程师可以预先测试和解决电磁兼容问题，从而避免产生非预期的一致性测试结果。扫描仪的诊断功能可以帮助设计团队将辐射测试时间缩短两个数量级以上。台式扫描仪包括2，436条回路，可产生1，218个间隔为7.5mm的磁场探针。

industryTemplate测出光纤折射率分布以及其他几何特性参数的测试方法。也可用于测量模场直径。深圳电子近场扫描

测试的结果可以对设计更改的影响进行精确的验证。深圳电子近场扫描

散射近场测量：1.天线口径场分布诊断：天线口径场分布诊断是通过测量天线近区场的分布逆推出天线口径场分布，从而判断出口径场畸变处所对应的辐射单元，这就是天线口径分布诊断的基本原理。该方法对具有一维圆对称天线口径分布的分析是可靠的，尤其对相控阵天线的分析与测量已有了充分的可信度。2.测量精度及误差分析：辐射近场测量的研究与误差分析的探讨是同时进行的，研究结果表明：辐射近场测量的主要误差源为18项，大致分为4个方面，即探头误差、机械扫描定位误差、测量系统误差以及测量环境误差。对于平面辐射近场测量的误差分析已经完成，计算机模拟及各项误差的上界也已给出；柱面、球面辐射近场测量的误差分析尚未完成。深圳电子近场扫描

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