散射近场测量：（1）常规天线电参数的测量：天线近场测量可以给出天线各个截面的方向图以及立体方向图，可以分析出方向图上的所有电参数（波束宽度、副瓣电平、零值深度、零深位置等）和天线的极化参数（轴比、倾角和旋向）以及天线的增益，深圳连续近场扫描优点。（2）低副瓣或很低副瓣天线的测量：天线方向图副瓣电平在-28～-35dB之间的天线称为低副瓣天线；副瓣电平小于-40dB的天线称为很低副瓣天线，深圳连续近场扫描优点。对它们的测量要用到“零探头”技术，据文献报导，副瓣电平在-40dB以上时，测量精度为±3dB，深圳连续近场扫描优点，副瓣电平为-55dB时，测量精度为±5dB。避免远场测量的空气衍射问题：大型扬声器的远场测量需要大型消声室以确保远场条件。深圳连续近场扫描优点

借助扫描系统，电路板设计工程师可以预先测试和解决电磁兼容问题，从而避免产生非预期的一致性测试结果。扫描仪的诊断功能可以帮助设计团队将辐射测试时间缩短两个数量级以上。某一大型半导体厂商在解串器的并行总线上实现了SSCG功能。SSCG功能能够通过将辐射峰值能量扩展到更宽的频带上来减少辐射。，频率变化发生在额定时钟中心频率（中心扩频调制）附近，扩展的频谱为正或负1.0%（fdev）。在接收器并行总线端，输出以千赫兹（fmod）的调制速率随时间调制时钟频率和数据频谱。定制的串行解串器芯片组的目标客户是要求所安装电子设备具有低EMI辐射特性的汽车厂商。深圳连续近场扫描优点测量将遭受由空气在距离和时间上的温度差异引起的衍射问题。

射频干扰（RFI）近场电磁扫描诊断分析：可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统支持诊断和分析9kHz-40GHz射频干扰（RFI）电磁波所带来的干扰问题，使用电场近场探头(H-Probe)、高低频磁场近场探头(H-Probe)套装，支持0.01mm分辨率步进电磁扫描，支持-90dBm以上射频信号分析。支持频率分布、功率分布、频谱分布、谐波分布等多射频干扰信号可视化分析功能，满足研发级正向设计、整机、板级、芯片的辐射杂散问题自动诊断分析，普遍用于2/3/4/5G手机、蓝牙、WiFi、物联网无线终端模块等行业，在电磁兼容可靠性正向研发、辐射杂散评估、辐射杂散干扰源头定位、替代物料辐射杂散评估、器件选型辐射杂散评估、成本降低辐射杂散性能评估、更新方案设计的辐射杂散性能评估、电磁仿真验证等方面。

近场扫描测试系统：对天线近场区（离开天线几个波长范围）的电磁场分布进行测量，然后利用有关的电磁场定律，通过严格的数学变换，得到待测天线在远场任意角域的电磁场分布。天线的近场测量技术的主要优点主要有：由于可以在室内进行测试，因而摆脱了远场测试场地、天气、安全性和恶劣电磁环境干扰的问题。易于控制多路径效应造成的测试误差。易于架设待测天线，待测天线不做相对运动，适宜大口径天线的测试。可以实现对天线口径分布的诊断，尤其适用于相控阵天线的口径校准与测试。采用同样的测试设置，设计团队用新一代全双工芯片组板替代了基线板。

辐射近场测量需要解决的问题：1.时域辐射近场测量的研究：为了反映脉冲工作状态和消除环境及其他因素对测量数据的影响，时域测量是一个良好的解决此类问题的途径，但目前处于研究阶段。2.无相位的辐射近场测量的研究：前述的辐射近场测量方法都需要测量出近场的相位和幅度，才能利用近场理论计算出天线的远场电特性，为了简化计算公式和测量系统以及降低测量时间与测量的相位误差（在频率f很高的情况下，即f＞80GHz，相位的测量误差是很大的），于是，有学者提出只用近场测量值的幅度来重建天线远场的方法。基线（半双工）系统的空间和频谱特性。展示了全双工模式下的辐射扫描结果。深圳电磁场近场扫描系统设备方案

不需要消声室可以使用场分离技术将辐射声从房间反射声中分离出来。深圳连续近场扫描优点

辐射杂散(RSE)近场电磁扫描诊断分析：可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统支持频率范围9kHz-40GHz的射频辐射杂散（RSE）近场分析，使用电场近场探头(H-Probe)、高低频磁场近场探头(H-Probe)，支持0.01mm分辨率步进电磁扫描，支持-90dBm以上辐射杂散信号分析。支持频率分布、功率分布、频谱分布、谐波分布等多辐射杂散RSE可视化分析功能，满足研发级正向设计、整机、板级、芯片的辐射杂散问题自动诊断分析，普遍用于手机、多媒体设备、无线终端模块、医疗、、仪器仪表等行业的电磁兼容可靠性正向研发、辐射杂散评估、辐射杂散干扰源头定位、替代物料辐射杂散评估、器件选型辐射杂散评估、成本降低辐射杂散性能评估、更新方案设计的辐射杂散性能评估、电磁仿真验证等方面。深圳连续近场扫描优点

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