EMI近场辐射测试的操作指南：a)整频段的扫描——设置起始频率及终止频率来确定频率范围。（如300KHz起始，300MHz终止，则扫描范围为300KHz至300MHz的频率范围。直接键盘输入数字后加上对应的单位即可完成输入）b)确定频率范围的扫描——设置中心频率点，而后设置扫宽范围，即可完成某一中心点某范围的扫描，深圳无线近场扫描优点。（如10MHz中心频率点，5MHz扫宽，深圳无线近场扫描优点。则为10MHz为中心，左右各2.5MHz范围的频率扫描）设置幅度AMPT——由于EMI的辐射功率值一般较低，深圳无线近场扫描优点，所以需要降低频谱仪显示平均噪声电平DNAL来将扫描结果显示出来。快速测量：标准3D声学测量，可在不到20分钟内完成典型两分频系统的声功率测量。深圳无线近场扫描优点

近场扫描系统的制作方法：测量一件介质板对电磁波的响应特征，需要用一个馈源发射电磁波，然后用一个采集设备来采集馈源发出的电磁波穿过该介质板后的电磁波其空间各个点的电磁特性，然后利用处理设备将检测到的空间各点的电磁特性值记录下来并进行分析，通过对比有、无介质板电磁参数特性的变化，推导出介质材料对电磁波的响应特性。以上过程需要通过三维近场扫描系统完成。现有的三维近场扫描系统，馈源、介质板及采集单元的位置都是手工调节的，测试效率低，定位又不准确。深圳天线近场扫描原理近场扫描测试能计入环境影响吗?近场测试是测的近场的表面电流,或者说很近的电磁场。

扫描系统由一个扫描仪、小型适配器、一个客户提供的频谱分析仪和运行扫描系统软件的PC组成。台式扫描仪包括2，436条回路，可产生1，218个间隔为7.5mm的磁场探针，形成一个电子开关阵列并提供高达3.75mm的分辨率。系统工作频率范围为50kHz至4GHz，通过可选的软件密钥启用。这样，用户就可以自行对设计进行测试，而不必依赖另外一个部门、测试工程师或进行耗时的场外测试。工程师甚至可以在诊断一个间歇故障之后，对设计进行更改，很快再进行测试。测试的结果可以对设计更改的影响进行精确的验证。借助扫描系统，电路板设计工程师可以预先测试和解决电磁兼容问题，从而避免产生非预期的一致性测试结果。扫描仪的诊断功能可以帮助设计团队将辐射测试时间缩短两个数量级以上。

近场扫描仪的特点：1.适用于大型扬声器：由于扬声器不移动，因此可以测量大型扬声器，并由吊车从天花板上支撑。2.避免远场测量的空气衍射问题：大型扬声器的远场测量需要大型消声室以确保远场条件。这样的测量将遭受由空气在距离和时间上的温度差异引起的衍射问题，导致较高频带中的相位响应出现高误差。在5m测量距离上，只2°C的温度变化将在10kHz处产生180度的相位误差。3.不需要消声室可以使用场分离技术将辐射声从房间反射声中分离出来。比消声室测量精度更高100Hz以下，不需要房间校正曲线。在第三代芯片组中，设计团队采用了一种不同的技术并升级了传输能力。

辐射近场测量需要解决的问题：（1）考虑探头与被测天线多次散射耦合的理论公式：在前述的理论中，所有的理论公式都是在忽略多次散射耦合条件下而得出的，这些公式对常规天线的测量有一定的精度，但对低副瓣或很低副瓣天线测量就必需考虑这些因素，因此，需要建立严格的耦合方程。（2）近场测量对天线口径场诊断的精度和速度：近场测量对常规阵列天线口径场的诊断有较好的诊断精度，但对于很低副瓣天线阵列而言，诊断精度和速度还需要进一步研究。（3）辐射近场扫频测量的研究：就一般情况而言，天线都在一个频带内工作，因此，各项电指标都是频率的函数，为了快速获得各个频率点的电指标，就需要进行扫频测量。扫频测量的理论与点频的理论完全一样，只是在探头扫描时，收发测量系统作扫频测量。频率变化发生在额定时钟中心频率（中心扩频调制）附近，扩展的频谱为正或负1.0%（fdev）。深圳天线近场扫描原理

一个电子开关阵列并提供高达3.75mm的分辨率。深圳无线近场扫描优点

为了量化比较半双工解串器与新一代全双工设计的辐射特性，设计团队再次使用了内部的EMI极近场扫描仪。对于平面辐射近场测量的误差分析已经完成，计算机模拟及各项误差的上界也已给出；柱面、球面辐射近场测量的误差分析尚未完成。他们将原来的半双工板放在扫描仪上，进行基线测量。对待测器件加电后，他们在PC上开启了扫描仪。采用同样的测试设置，设计团队用新一代全双工芯片组板替代了基线板，同时也针对每一条特性保持了同样的规格。如上文所述，需注意的是，空间扫描叠加在每次生成的Gerber设计文件上，以帮助工程师可以确定任何存在的辐射源。深圳无线近场扫描优点

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