极近场扫描系统完成了空间和频谱扫描后显示并生成了以下辐射特性图。需注意的是，扫描结果叠加在Gerber设计文件上，因此这样对结果进行分析可以立即确定待测器件中的具体辐射体。为了实现这个目标，设计团队首先在SSCG功能为“关”的情况下将待测器件（DUT）放其内部扫描仪上，加电，然后在PC中捕获辐射特性。为了进行有效的对比，在打开SSCG功能的情况下，对同一待测器件进行了扫描。为SSCG功能为“开”时待测设备辐射的空间和频谱（幅度与频率）特性，深圳无线近场扫描系统设备方案，深圳无线近场扫描系统设备方案。通过对比，可以发现辐射已经显着减少，深圳无线近场扫描系统设备方案。扫描系统由一个扫描仪、小型适配器、一个客户提供的频谱分析仪和运行扫描系统软件的PC组成。深圳无线近场扫描系统设备方案

一种电磁场近场扫描装置与扫描方法，扫描装置结构简单，通过探头实现对待测物品的电磁场近场数据的准确采集，通过空间移动平台和计算机协调工作实现对探头位置的准确控制，通过显微摄像装置准确监测探头与待测物品之间的距离，从而能够准确获得待测物品的电磁场近场扫描结果，另外，探头在扫描待测物品电磁场近场时，采用逐点扫描，实时采集传输，即每一次探头移动，均采集一次数据并及时将采集到的数据发送至信号分析装置，避免扫描过程中，扫描装置自身对待测物品电磁场近场的影响，以及数据采集延时对信号准确度的影响，从而更进一步提高了扫描的精度和扫描结果的准确度。深圳无线近场扫描系统设备方案近场扫描仪的特点：适用于大型扬声器：由于扬声器不移动，因此可以测量大型扬声器。

近场扫描系统的制作方法：测量一件介质板对电磁波的响应特征，需要用一个馈源发射电磁波，然后用一个采集设备来采集馈源发出的电磁波穿过该介质板后的电磁波其空间各个点的电磁特性，然后利用处理设备将检测到的空间各点的电磁特性值记录下来并进行分析，通过对比有、无介质板电磁参数特性的变化，推导出介质材料对电磁波的响应特性。以上过程需要通过三维近场扫描系统完成。现有的三维近场扫描系统，馈源、介质板及采集单元的位置都是手工调节的，测试效率低，定位又不准确。

散射近场测量：（1）常规天线电参数的测量：天线近场测量可以给出天线各个截面的方向图以及立体方向图，可以分析出方向图上的所有电参数（波束宽度、副瓣电平、零值深度、零深位置等）和天线的极化参数（轴比、倾角和旋向）以及天线的增益。（2）低副瓣或很低副瓣天线的测量：天线方向图副瓣电平在-28～-35dB之间的天线称为低副瓣天线；副瓣电平小于-40dB的天线称为很低副瓣天线。对它们的测量要用到“零探头”技术，据文献报导，副瓣电平在-40dB以上时，测量精度为±3dB，副瓣电平为-55dB时，测量精度为±5dB。任何降低EMI的功能（此案例中为SSCG功能）都可以缩短上市时间、降低屏蔽和成本支出。

众所周知，在离开被测目标3λ～5λ（λ为工作波长）距离上测量该区域电磁场的技术称为近场测量技术。如果被测目标是辐射器，则称为辐射近场测量；若被测目标是散射体，则称为散射近场测量；对测得散射体的散射近场信息进行反演或逆推就能得到目标的像函数，这就是目标近场成像。但是，截止目前为止，关于辐射、散射近场测量以及近场成像技术溶为一体的综述性文章还未见到公开的报导，这对从事这方面研究的学者无疑是一种遗憾。为使同行们能全部地了解该技术的发展动态，该文概述了近几十年来关于辐射、散射近场测量及近场成像技术前人所做的工作及其新的进展，并指出了未来研究的主要方向。扫描技术有助于快速解决普遍的电磁设计问题。深圳无线近场扫描系统设备方案

测试人员可以准确地找出所有辐射问题的来源。深圳无线近场扫描系统设备方案

传导抗扰度（CS）近场电磁扫描诊断分析：可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统使用电磁场近场耦合探头套装，支持0.01mm分辨率步进电磁扫描，采用近场电磁耦合的方式，将150kHz-1000MHz的传导抗扰度(CS)电压耦合到电路中，从而找到敏感源头位置，解决传导抗扰度问题，提高产品的传导抗扰度能力，该方法也能解决大电流注入（BCI）抗扰度问题。普遍用于、医疗、感应器、仪器仪表、汽车电子部件等行业的传导抗扰度问题解决，在电磁兼容可靠性正向研发、传导抗扰度敏感源头定位、器件选型传导抗扰度性能评估、更新方案设计的传导抗扰度性能评估、电磁仿真验证等方面。深圳无线近场扫描系统设备方案

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