近场扫描测试系统：对天线近场区（离开天线几个波长范围）的电磁场分布进行测量，深圳智能近场扫描功能，然后利用有关的电磁场定律，通过严格的数学变换，得到待测天线在远场任意角域的电磁场分布。天线的近场测量技术的主要优点主要有：由于可以在室内进行测试，因而摆脱了远场测试场地、天气、安全性和恶劣电磁环境干扰的问题，深圳智能近场扫描功能。易于控制多路径效应造成的测试误差。易于架设待测天线，深圳智能近场扫描功能，待测天线不做相对运动，适宜大口径天线的测试。可以实现对天线口径分布的诊断，尤其适用于相控阵天线的口径校准与测试。在5m测量距离上，只2°C的温度变化将在10kHz处产生180度的相位误差。深圳智能近场扫描功能

散射近场测量：1.天线口径场分布诊断：天线口径场分布诊断是通过测量天线近区场的分布逆推出天线口径场分布，从而判断出口径场畸变处所对应的辐射单元，这就是天线口径分布诊断的基本原理。该方法对具有一维圆对称天线口径分布的分析是可靠的，尤其对相控阵天线的分析与测量已有了充分的可信度。2.测量精度及误差分析：辐射近场测量的研究与误差分析的探讨是同时进行的，研究结果表明：辐射近场测量的主要误差源为18项，大致分为4个方面，即探头误差、机械扫描定位误差、测量系统误差以及测量环境误差。对于平面辐射近场测量的误差分析已经完成，计算机模拟及各项误差的上界也已给出；柱面、球面辐射近场测量的误差分析尚未完成。深圳智能近场扫描功能在任何新PCB的开发过程中，设计工程师都必须找出设计之外的辐射体或射频泄漏。

天线近场扫描系统主要组成：数据采集、处理子系统：组成：计算机，转台控制设备，数据生成、处理软件包等。工作原理：幅度和相位数据在测量表面的确定位置有规则地逐点进行采集，这是通过扫描探头对这些位置处场值的记录，计算机存储生成所测得数据，再由计算机通过变换，实现近场远场数据转换，从而近似得到天线的远场特性，将测量数据导入软件中，按特定的算法绘出天线相应远场的幅值和相位随位置变化的波形图，这样可以实现测量天线的方向图特性。网格点的位置、扫描面区域、机械全自动控制系统，探头与待测天线间多重反射，外界环境，电子设备辐射，电缆扰动等影响因素都是需要通过补偿技术对整个系统做进一步的改善。

辐射近场测量需要解决的问题：（1）考虑探头与被测天线多次散射耦合的理论公式：在前述的理论中，所有的理论公式都是在忽略多次散射耦合条件下而得出的，这些公式对常规天线的测量有一定的精度，但对低副瓣或很低副瓣天线测量就必需考虑这些因素，因此，需要建立严格的耦合方程。（2）近场测量对天线口径场诊断的精度和速度：近场测量对常规阵列天线口径场的诊断有较好的诊断精度，但对于很低副瓣天线阵列而言，诊断精度和速度还需要进一步研究。（3）辐射近场扫频测量的研究：就一般情况而言，天线都在一个频带内工作，因此，各项电指标都是频率的函数，为了快速获得各个频率点的电指标，就需要进行扫频测量。扫频测量的理论与点频的理论完全一样，只是在探头扫描时，收发测量系统作扫频测量。利用有关的电磁场定律，通过严格的数学变换，得到待测天线在远场任意角域的电磁场分布。

极近场EMI扫描技术：快速磁性极近场测量仪器可以捕获和显示频谱和实时空间扫描结果的可视图像。芯片厂商和PCB设计工程师可以扫描任何一块电路板，并识别出50kHz至4GHz频率范围内的恒定或时基的辐射源。这种扫描技术有助于快速解决普遍的电磁设计问题，包括滤波、屏蔽、共模、电流分布、抗干扰性和宽带噪声。在任何新PCB的开发过程中，设计工程师都必须找出设计之外的辐射体或射频泄漏，并对其进行描述和处理以通过一致性测试。可能的辐射体包括高速、大功率器件以及具有高密度或高复杂度的器件。扫描系统以叠加在Gerber文件上的形式显示空间辐射特性，因此测试人员可以准确地找出所有辐射问题的来源。设计工程师可以在采取了相应的解决措施之后，对器件进行重新测试并立即量化出校正设计后的效果。测量将遭受由空气在距离和时间上的温度差异引起的衍射问题。深圳智能近场扫描功能

快速磁性极近场测量仪器可以捕获和显示频谱和实时空间扫描结果的可视图像。深圳智能近场扫描功能

近场扫描系统的制作方法：测量一件介质对电磁波的响应特征，需要检测穿过该介质后的电磁波其空间各个点的电磁特性，然后利用一定的处理设备将检测到的空间各点的电磁特性值记录下来并进行分析，对比未穿过介质以前的电磁波，可以计算出介质对电磁波的响应特性。以上过程需要通过三维近场扫描系统完成。现有的三维近场扫描系统I所示，主要包括采集单元2、分析单元3、处理单元6以及移动单元4和控制单元5。其中，采集单元2如接收天线用于采集穿过介质I后的电磁波在空间各个点上的电磁参数，移动单元4例如电机、滑轨则辅助采集单元2在三维空间上以一定的步长上下、左右或前后移动，控制单元5用来驱动移动单元4的启动、停止等。深圳智能近场扫描功能

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