散射近场测量：（1）常规天线电参数的测量：天线近场测量可以给出天线各个截面的方向图以及立体方向图，深圳天线近场扫描应用，可以分析出方向图上的所有电参数（波束宽度、副瓣电平、零值深度，深圳天线近场扫描应用、零深位置等）和天线的极化参数（轴比、倾角和旋向）以及天线的增益。（2）低副瓣或很低副瓣天线的测量：天线方向图副瓣电平在-28～-35dB之间的天线称为低副瓣天线；副瓣电平小于-40dB的天线称为很低副瓣天线。对它们的测量要用到“零探头”技术，据文献报导，副瓣电平在-40dB以上时，测量精度为±3dB，副瓣电平为-55dB时，深圳天线近场扫描应用，测量精度为±5dB。近场扫描仪的特点：不需要消声室：可以使用场分离技术将辐射声从房间反射声中分离出来。深圳天线近场扫描应用

极近场扫描系统完成了空间和频谱扫描后显示并生成了以下辐射特性图。需注意的是，扫描结果叠加在Gerber设计文件上，因此这样对结果进行分析可以立即确定待测器件中的具体辐射体。为了实现这个目标，设计团队首先在SSCG功能为“关”的情况下将待测器件（DUT）放其内部扫描仪上，加电，然后在PC中捕获辐射特性。为了进行有效的对比，在打开SSCG功能的情况下，对同一待测器件进行了扫描。为SSCG功能为“开”时待测设备辐射的空间和频谱（幅度与频率）特性。通过对比，可以发现辐射已经显着减少。深圳天线近场扫描应用利用有关的电磁场定律，通过严格的数学变换，得到待测天线在远场任意角域的电磁场分布。

EMI近场辐射测试的操作指南：i.根据迹线类型，我们可以先扫描未整改前的板子辐射情况，并记录为迹线1，用很大保持扫描后，得到高的迹线情况，用查看固定迹线使其不再更新。ii.打开迹线2，并用很大保持扫描我们整改后的板子，得到整改后的迹线情况，得到迹线2.对比1与2的迹线，可以了解整改前后各个频点的辐射很大值是否有改善。iii.打开迹线3，并用去除写入进行检测，可得到板子目前每个测量点的辐射情况，并迹线1、2进行对比，可观测每个测量点的不同辐射情况。iv.将三条迹线进行对比，可得到我们整改的效果是否符合要求，并将板子上每个点的辐射情况与整体的辐射情况作对比，可知每个较强辐射的信号点产生的位置。

一种电磁场近场扫描装置与扫描方法，扫描装置结构简单，通过探头实现对待测物品的电磁场近场数据的准确采集，通过空间移动平台和计算机协调工作实现对探头位置的准确控制，通过显微摄像装置准确监测探头与待测物品之间的距离，从而能够准确获得待测物品的电磁场近场扫描结果，另外，探头在扫描待测物品电磁场近场时，采用逐点扫描，实时采集传输，即每一次探头移动，均采集一次数据并及时将采集到的数据发送至信号分析装置，避免扫描过程中，扫描装置自身对待测物品电磁场近场的影响，以及数据采集延时对信号准确度的影响，从而更进一步提高了扫描的精度和扫描结果的准确度。任何降低EMI的功能（此案例中为SSCG功能）都可以缩短上市时间、降低屏蔽和成本支出。

扫描仪会有辐射，电器在运行中都会产生辐射。束缚电磁波主要集中在场源附近，以感应场的形式存在。它的能量不只在电能与磁能两种形式之间转换，也在场源和周围空间之间转换，但没有功率向远处传播。自由电磁波的能量能够脱离场源，以电磁波的形式向远处传播，其电磁场称为辐射场。在场源附近，束缚电磁波的能量远大于自由电磁波的能量，而在远离场源的地方，后者的能量远大于前者。非电离辐射之能量较电离辐射弱。非电离辐射不会电离物质，而会改变分子或原子之旋转，振动或价层电子轨态。非电离辐射对生物活组织的影响被研究的时间并不长。不同的非电离辐射可产生不同之生物学作用。一个电子开关阵列并提供高达3.75mm的分辨率。深圳天线近场扫描应用

对测得散射体的散射近场信息进行反演或逆推就能得到目标的像函数，这就是目标近场成像。深圳天线近场扫描应用

近场扫描测试能计入环境影响吗?近场测试是测的近场的表面电流,或者说很近的电磁场,然后再计算成远场的方向图,这显然是无法考虑附近金属体的影响的,其实近场测试只是对方向性高的阵列天线比较适用,到了边上的话计算出的场也是不准的,需要校准.我觉得如果你把金属考虑进去,一起测试比如一块大的ground,那也会是比较准确的。通过上述实施方式,其具有X、Y、Z及极化轴四轴运动能力,可以有效捕捉水平方向传播的波谱信息,能够容易地调整扫描架与待测设备之间的距离,自动化程度高,测试效率高。深圳天线近场扫描应用

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