射频干扰（RFI）近场电磁扫描诊断分析：可视化EMC(电磁兼容)近场扫描诊断分析系统支持诊断和分析9kHz-40GHz射频干扰（RFI）电磁波所带来的干扰问题，使用电场近场探头(H-Probe)、高低频磁场近场探头(H-Probe)套装，支持0.01mm分辨率步进电磁扫描，支持-90dBm以上射频信号分析。支持频率分布、功率分布、频谱分布、谐波分布等多射频干扰信号可视化分析功能，满足研发级正向设计、整机、板级、芯片的辐射杂散问题自动诊断分析，普遍用于2/3/4/5G手机、蓝牙、WiFi、物联网无线终端模块等行业，在电磁兼容可靠性正向研发、辐射杂散评估，深圳连续近场扫描应用、辐射杂散干扰源头定位、替代物料辐射杂散评估，深圳连续近场扫描应用、器件选型辐射杂散评估、成本降低辐射杂散性能评估，深圳连续近场扫描应用、更新方案设计的辐射杂散性能评估、电磁仿真验证等方面。高信噪比：近场中声压级高，对环境噪声的要求不需要太严格。深圳连续近场扫描应用

近场扫描系统的制作方法：测量一件介质对电磁波的响应特征，需要检测穿过该介质后的电磁波其空间各个点的电磁特性，然后利用一定的处理设备将检测到的空间各点的电磁特性值记录下来并进行分析，对比未穿过介质以前的电磁波，可以计算出介质对电磁波的响应特性。以上过程需要通过三维近场扫描系统完成。现有的三维近场扫描系统I所示，主要包括采集单元2、分析单元3、处理单元6以及移动单元4和控制单元5。其中，采集单元2如接收天线用于采集穿过介质I后的电磁波在空间各个点上的电磁参数，移动单元4例如电机、滑轨则辅助采集单元2在三维空间上以一定的步长上下、左右或前后移动，控制单元5用来驱动移动单元4的启动、停止等。深圳连续近场扫描应用扫描系统以叠加在Gerber文件上的形式显示空间辐射特性。

EMI近场辐射测试的操作指南：a)整频段的扫描——设置起始频率及终止频率来确定频率范围。（如300KHz起始，300MHz终止，则扫描范围为300KHz至300MHz的频率范围。直接键盘输入数字后加上对应的单位即可完成输入）b)确定频率范围的扫描——设置中心频率点，而后设置扫宽范围，即可完成某一中心点某范围的扫描。（如10MHz中心频率点，5MHz扫宽。则为10MHz为中心，左右各2.5MHz范围的频率扫描）设置幅度AMPT——由于EMI的辐射功率值一般较低，所以需要降低频谱仪显示平均噪声电平DNAL来将扫描结果显示出来。

一种电磁场近场扫描装置，包括探头、空间移动平台、显微摄像装置、信号分析装置和计算机；所述探头和所述计算机分别与所述信号分析装置连接，所述空间移动平台和所述显微摄像装置分别与所述计算机连接，所述探头固定于所述空间移动平台；所述计算机发送指令，控制所述空间移动平台空间移动，固定于所述空间移动平台的探头移动，逐点扫描待测物品的电磁场近场，实时采集待测物品电磁场近场的电信号数据，并将采集到的电信号数据发送至所述信号分析装置，所述信号分析装置分析所述电信号数据，获取信号测量数据，并将所述信号测量数据发送至所述计算机，所述显微摄像装置监测所述探头与所述待测物品之间的距离，并将监测获得的距离数据发送至所述计算机，所述计算机根据所述信号测量数据和所述距离数据，处理获得待测物品的电磁场近场扫描结果。近场扫描测试系统：对天线近场区（离开天线几个波长范围）的电磁场分布进行测量。

近场扫描测试系统：对天线近场区（离开天线几个波长范围）的电磁场分布进行测量，然后利用有关的电磁场定律，通过严格的数学变换，得到待测天线在远场任意角域的电磁场分布。天线的近场测量技术的主要优点主要有：由于可以在室内进行测试，因而摆脱了远场测试场地、天气、安全性和恶劣电磁环境干扰的问题。易于控制多路径效应造成的测试误差。易于架设待测天线，待测天线不做相对运动，适宜大口径天线的测试。可以实现对天线口径分布的诊断，尤其适用于相控阵天线的口径校准与测试。对测得散射体的散射近场信息进行反演或逆推就能得到目标的像函数，这就是目标近场成像。深圳连续近场扫描应用

利用有关的电磁场定律，通过严格的数学变换，得到待测天线在远场任意角域的电磁场分布。深圳连续近场扫描应用

快速磁性极近场测量仪器可以捕获和显示频谱和实时空间扫描结果的可视图像。芯片厂商和PCB设计工程师可以扫描任何一块电路板，并识别出50kHz至4GHz频率范围内的恒定或时基的辐射源。这种扫描技术有助于快速解决普遍的电磁设计问题，包括滤波、屏蔽、共模、电流分布、抗干扰性和宽带噪声。在任何新PCB的开发过程中，设计工程师都必须找出设计之外的辐射体或射频泄漏，并对其进行描述和处理以通过一致性测试。可能的辐射体包括高速、大功率器件以及具有高密度或高复杂度的器件。扫描系统以叠加在Gerber文件上的形式显示空间辐射特性，因此测试人员可以准确地找出所有辐射问题的来源。设计工程师可以在采取了相应的解决措施之后，对器件进行重新测试并立即量化出校正设计后的效果。深圳连续近场扫描应用

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