虽然电磁场存在于天线周围，但他们会向外扩张，超出天线以外后，深圳消费电子近场辐射检测，电磁场就会自动脱离为能量包单独传播出去。实际上电场和磁场互相产生，这样的“单独”波就是无线电波。距离天线一定范围内，电场和磁场基本为平面并以直角相交。注意传播方向和电磁场均成直角。在图2(a)中，传播方向和电磁场线方向成正交，深圳消费电子近场辐射检测，即垂直纸面向内或向外。磁场线垂直纸面向外，如图中圆圈所示。对近场似乎还没有正式的定义，它取决于应用本身和天线，深圳消费电子近场辐射检测。通常，近场是指从天线开始到1个波长(λ)的距离。近场成分指的立方衰减分量强度随距离（观测点的天线的距离）。深圳消费电子近场辐射检测

辐射近场测量方法都需要测量出近场的相位和幅度，才能利用近场理论计算出天线的远场电特性，为了简化计算公式和测量系统以及降低测量时间与测量的相位误差（在频率f很高的情况下，即f＞80GHz，相位的测量误差是很大的），于是，有学者提出只用近场测量值的幅度来重建天线远场的方法。该方法的基本思想为［10］：测出S1，S2两个面的幅度值（A1，A2），人为选定S1面测量值的相位（φ1），先由S1面的幅度、相位值（A1，φ1）计算出S2面的幅度、相位值（a2，φ2），用A2代替a2，再由A2，φ2求出S1面的a1，φ1，用A1代替a1，重新由A1，φ1求出S2面新的a2，φ2，如此迭代下去，直至A1-a1≤ε，A2-a2≤ε（ε为测量精度），便可得到S1或S2面的相位分布，这时，可由S1或S2实测的幅度和迭代过程所得到的相位求得天线的远场电特性。由于迭代收敛等原因，这方面的研究还未付诸实施。深圳消费电子近场辐射检测通常，近场是指从天线开始到1个波长(λ)的距离。

在近场工作区内针对主反射墙的吸波材料进行特定频段吸收特性的测试。测试近场工作区反射电平时，发射天线先置于暗室中心轴线上，接收天线置于正对被测墙壁的一个合理位置，并沿两天线轴线移动一段距离进行反射电平的测试。测试步骤：连接好测试系统，按置发射天线及接收天线于测试位置Ⅰ；设置信号源频率为1GHz，输出功率调至合适大小使发射天线辐射信号，接收天线在正对发射天线方向，沿待测行程线移动，并记录接收信号曲线，测试曲线作为这条行程线的参考电平线；将接收天线方向朝向被测墙壁吸波材料方向，接收天线沿这条测量行程线移动，并记录空间驻波曲线。

EMI辐射近场探头是用于配合频谱分析仪查找干扰源的设备。产品性能：EMI辐射近场探头（DC-9G）适合任何频谱分析仪、示波器或EMI测试接收机，频率范围超宽，满足您现在以及未来的测量需求。（DC-9G）包括4个磁场探头和1个电场探头，所有探头均覆盖绝缘层。配备手握式三角架，固定探头组，以消除抖动带来的影响。产品特点：覆盖有绝缘层的安全措施；非常方便的设计包括涂橡胶握把；非常小的尺寸，完善精确的干扰源定位；可以由一个信号源驱动产生的电磁敏感性测试领域。远场分量的强度距离衰减二次组件。

平面散射近场测量的基本理论已由文献［12～15］给出。其基本原理是综合平面波法，综合平面波的基本思想为：如果对一个由N个辐射单元组成的线阵同时进行激励，每个辐射单元产生一个准球面波e（θ，φ），选择一个与方向角（θ，φ）有关的权函数W（θ，φ）对每个e（θ，φ）进行加权并求和（线性系统），则所得的加权求和函数近似为均匀平面波，对不同方向的（θ，φ）选择不同W（θ，φ）就可以获得不同方向上的平面波对被测目标的照射。这一过程实现了对平面波的综合（这与综合口径雷达SAR的概念极为相似），并很容易在计算机上完成。远场开始于距离为2λ的地方。辐射出的正弦波和近场、远场。深圳消费电子近场辐射检测

近场通常分为两个区域，反应区和辐射区。深圳消费电子近场辐射检测

低副瓣或很低副瓣天线的测量，天线方向图副瓣电平在-28～-35dB之间的天线称为低副瓣天线；副瓣电平小于-40dB的天线称为很低副瓣天线。对它们的测量要用到“零探头”技术，据文献报导，副瓣电平在-40dB以上时，测量精度为±3dB，副瓣电平为-55dB时，测量精度为±5dB。天线口径场分布诊断是通过测量天线近区场的分布逆推出天线口径场分布，从而判断出口径场畸变处所对应的辐射单元，这就是天线口径分布诊断的基本原理。该方法对具有一维圆对称天线口径分布的分析是可靠的，尤其对相控阵天线的分析与测量已有了充分的可信度。深圳消费电子近场辐射检测

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