平面散射近场测量的基本理论已由文献［12～15］给出。其基本原理是综合平面波法，综合平面波的基本思想为：如果对一个由N个辐射单元组成的线阵同时进行激励，每个辐射单元产生一个准球面波e（θ，φ），选择一个与方向角（θ，φ）有关的权函数W（θ，φ）对每个e（θ，深圳电气电力近场辐射，φ）进行加权并求和（线性系统），则所得的加权求和函数近似为均匀平面波，深圳电气电力近场辐射，对不同方向的（θ，深圳电气电力近场辐射，φ）选择不同W（θ，φ）就可以获得不同方向上的平面波对被测目标的照射。这一过程实现了对平面波的综合（这与综合口径雷达SAR的概念极为相似），并很容易在计算机上完成。近场和远场的边界、运行频段的波长。深圳电气电力近场辐射

电场是由电压产生，主要的发射源包括一些未端接器件的线缆、连接高阻器件的PCB布线等。简单的电场探头类似一根小天线。有人甚至把同轴电缆前端的一小段屏蔽层剥开，露出芯线来构成简单的电场探头进行使用。在没有屏蔽设备的情况下，电场探头的问题是比较容易拾取到环境中存在的电磁波信号，如蜂窝通信的上下行信号，从而影响到整个测试系统的测量动态范围。因为磁场是由电流产生的，所以常见的发射源包括芯片，器件的管脚、PCB上的布线、电源线及信号线缆。常见的磁场探头多为环状，当磁场传播线和探头环面垂直的时候，测量数值很大。所以在测量过程中，工程师一般需要旋转探头的方向来测量到很大的磁场数值，同时避免遗漏重要的发射源。深圳电气电力近场辐射一般情况下，对于电压高电流小的场源(如发射天线、馈线等)。

散射近场测量：当辐射体变为散射体时，辐射近场测量转换为散射近场测量。由于散射体是无源的，因此需要一个照射源对其进行照射，同辐射近场测量一样，散射近场测量也有3种取样方式，分别称为平面散射近场测量和柱面散射近场测量以及球面散射近场测量。平面散射近场已取得了许多研究成果，柱面、球面散射近场测量的研究成果公开报道的文献很少。散射体的散射特性通常用雷达散射截面（RadarCrossSection，简写为RCS）来衡量，有一定量和相对量之分，一定量一般是以一个已知散射体的RCS为标准来标定待测散射体的RCS，标准值来自理论计算和测量值；相对量用散射方向图来表示。

测量方法的优点是通过一次测量可获得较多的信息量，利用这些信息可计算出金属导体目标散射的平面和空间的散射方向图以及它的散射极化特性；也可计算出该导体目标RCS的一定值，但在实际测量系统中，发射探头（提供照射源的探头）和接收探头是安装在同一个道轨上，因此，按照散射近场平面波扫描理论，发射探头扫描在一个位置时，接收探头需要在一维方向做一次扫描；发射探头扫描在另一个位置时，接收探头仍要在一维方向做一次扫描，发射探头位置不断向一个方向扫描，接收探头的扫描范围就会越来越小，因此，有一半的测量数据是得不到的，解决这一问题的方法是利用互易定理。在辐射近场区中，辐射场占优势，并且辐射场的角度分布与距离天线口径的距离有关。

近场EMI测量的问题在于使用近场探头的测量结果和使用天线进行远场测量的结果无法直接进行数学转换。但是存在一个基本原理：近场的辐射越大，远场的辐射也必然越大。所以使用近场探头测量，实际上是一个相对量的测量，而不是精确的一定量测量。使用近场探头进行EMI预兼容测试时，我们常常把新被测件测试结果和一个已知合格被测件的近场探头测试（近场测试）结果进行比较，来预测EMI辐射泄漏测试（远场测试）的结果，而不是直接和符合EMI兼容标准的限制线进行比较。同时，测试的一定数值意义也不大，因为这个测试结果和诸多变量，包括探头的位置方向、被测件的形状等会密切相关。电场要比磁场强得多，对于电压低电流大的场源(如某些感应加热设备的模具)，磁场要比电场大得多。深圳电气电力近场辐射

对于通常的天线，辐射近场区此区域也称为菲涅尔区。深圳电气电力近场辐射

近场探头用于在研发阶段测量电子模块上的电场和磁场，频率范围为30MHz到3GHz。利用RF1探头组的探头，可以实现紧贴电子模块测量，比如贴近单个IC引脚、导线、元器件及其连接点测量，从而定位干扰信号源。通过相应地操作近场探头，能够测量出电子模块上电磁场的方向及其分布。随着5G时代的推进，智能终端产品作为宽带射频应用大的消费市场面临着一系列开发与验证的问题。其中，越来越小的设计空间与近场探头电磁辐射杂散性能之间的矛盾，将是商业研究人员开发和验证中面临的巨大挑战。若要以更高的精度、更强的自信探索开创性的概念，来推动现有技术发展、以创新创造**、将5G愿景转变为现实的过程中，我们不得不在工作中选择更为适合我们的调试、测试解决方案。深圳电气电力近场辐射

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