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上海晶圆粗糙度检测检测仪器 推荐咨询 岱珂机电供应

信息介绍 / Information introduction

上海岱珂机电设备有限公司-

3D测量设备-4轴/5轴3D测量机:

搭配线激光或线光谱实现3D扫描测量,适用3C样品通用扫描(治具和标定块不同);

•3D轮廓度,3D尺寸等;

•玻璃,石墨模具3D扫描测量;

•Watch3D扫描测量;

•手机中框3D扫描测量;

•A客户配件3D扫描测量。

全自动固定桥式光谱共焦测量仪:

•超精密全自动测量,四轴CNC全自动控制;

•全自动变倍光学镜头,可实现自动变倍测量;

•12.5倍大变倍比镜头,适应不同测量需求;

•采用130万高清数字相机,成像更清晰;

•采用程控式5环8区环形表面光,LED轮廓底光,同轴光源;

•摇杆操控全自动对焦、测量、寻边、倍率切换等功能保证测量高效率;

•采用00级济南青花岗岩机台,精度高,上海晶圆粗糙度检测检测仪器、稳定性更好;

•可选配点激光,上海晶圆粗糙度检测检测仪器,上海晶圆粗糙度检测检测仪器,线激光,进口接触式探针,搭载自主研发的专业测量软件,进行三次元测量。 司逖测量技术(上海)有限公司致力于提供检测仪器,竭诚为您服务。上海晶圆粗糙度检测检测仪器

岱珂FPC上料视觉引导设备,岱珂FPC上料机,采用相机拍照引导机械手抓取移载,提高产品来料移载精度;该设备共计两套相机,分别对产品tray盘物料和抓取后单个料件拍照,完成粗抓取和二次定位工作。检测仪器包括无损检测仪器、质量检测仪器及分析仪器等。质量检测仪器主要用途:联工检测产品力学、耐候等等性能,起来生产质量把控及产品性能掌握。检测仪器包括无损检测仪器、质量检测仪器及分析仪器等。质量检测仪器主要用途:联工检测产品力学、耐候等等性能,起来生产质量把控及产品性能掌握。精密检测仪器自上世纪九十年代进入中国以来,便成为了新兴产业中高速发展的一个行业。由于精密检测仪器的行业是应用在工业产品的检测上,所以在国内的工业生产中被应用。上海晶圆粗糙度检测检测仪器司逖测量技术(上海)有限公司是一家专业提供检测仪器的公司,有想法的可以来电咨询!

上海岱珂机电激光位移传感器:此系列产品性能指标达到国际前列水平,测量重复精确度达到0.5um,可实现对国外同类产品的替代。以高效、低成本、模块化的方式为广大客户提供机器视觉的相关解决方案。为集成商提供的全系列一体化3D智能激光视觉传感器产品已经在消费类电子制造、汽车制造、新能源制造、钣金加工等领域广泛应用。上海岱珂机电激光位移传感器DK-2000系列产品:•型号***,Z向测量范围从5mm至1000mm;•340Hz@全画幅的采集速率,满足多种场景需求;•千兆以太网传输;•支持Modbus等输出测量数据;•支持模拟输出;•可与PLC通信;•可直接控制电机。

岱珂机电可为客户提供超声检测设备、检测标准及检测方案定制服务。已形成YTS100、DXS200、GSS300及ZMS400等系列机型,产品通过CE、CSA认证,可满足低压电器焊接质量检测、金刚石缺陷和厚度测量、水冷板散热器检测、半导体封测等行业需求。YTS100一体式超声扫描显微镜结构紧凑、适应面广、经典机型。产品参数:整机尺寸:1.35m×0.95m×0.13m;最大扫描范围:350mm×200mm×110mm;典型扫描耗时:≤65s(区域10mmX10mm,分辨率50um);比较大扫描速度:300mm/s;运动台定位精度:X/Y向±1um,Z向±10um。STIL为全球各行业提供高性能光谱共焦位移传感器已超过26年。

机器视觉的应用领域是指在一些不适于人工作业的危险工作环境,或者人工视觉难以满足要求的场合,常用机器视觉来替代人工视觉。同时,在大批量重复性工业生产过程中,用机器视觉检测方法可以提高生产的效率和自动化程度。其应用领域涉及工业、农业、医药、航天等各行各业。机器视觉会摆脱 初“辅助工具”的地位,成为生产系统的“眼睛”与“大脑”,目前机器视觉在发达国家早已发展成熟,行业进入稳定增长期。我国的机器视觉的市场发展趋势随着5G时代的到来,将会渗透进我们生活的方方面面。关注岱珂机电设备机器视觉案例,为您提供多种机器视觉在线方案,专业工程师一对一咨询。能降低原材料浪费率、废料率,为企业节约成本。上海晶圆粗糙度检测检测仪器

产品创新技术与激光相比,热量的延迟和衰减通过高级算法与厚度相关联。上海晶圆粗糙度检测检测仪器

岱珂控制器介绍:CCSOptima+控制器:●测量频率:高达10KHz;●高灵敏度,在多种样品上可以达到有效的高频率;●具备CCS系列控制器的所有优势;CCSPrima控制器:●当下行的光谱共聚焦控制器;●测量频率:高达2KHz;●CCD光电探测器,即便有非常高的信噪比;●2通道和4通道。多通道型号可供选择(传输时间<400ms);●具备CCS系列控制器的所有优势VIZIR控制器;●高精度的比较好解决方案,非接触式晶片厚度测量;●近红外光谱带;●(测量频率)高达1KHZ;●距离和厚度模式;●数字输出:USB和RS232/RS422●2个0V-10V的模拟输出;●同步读取3个外部数字编码器;●由于特定的厚度校准,提高了厚度模式下的性能;●长寿命光源;●高级功能:“首要峰值”,“双倍频率”,“保持zui终值”,时间平均。上海晶圆粗糙度检测检测仪器

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