由于EMI测试上﹐EUT必须转360度而天线由1m到4m变化﹐其目的是要记录辐射很大的情况。同样地﹐当我们发现无法通过测试时﹐首先我们先将天线位置移到噪声接收很大高度﹐然后将桌子转到差角度﹐此时我们知道在EUT面对天线的这一面辐射强﹐故可以初步推测可能的原因﹐如此处屏蔽不佳或靠近辐射源或有电线电缆经过等，北京芯片EMI诊断辐射发射测试，北京芯片EMI诊断辐射发射测试。另外须注意的是要关掉EUT的电源﹐看噪声是否存在﹐以确定噪声确实是由EUT所产生，北京芯片EMI诊断辐射发射测试。曾见测试Monitor一直无法解决某一点的干扰﹐结果其噪声是由PC所造成而非Monitor的问题﹐亦有在OPEN SITE测试Monitor发现某几点无法通过﹐由测试接收仪器的声音判断应是Monitor产生﹐结果关掉电源发现噪声依然存在﹐所以关掉EUT电源的步骤是必须的﹐而且通常容易被忽略。待测设备（DUT）可能放在一个转盘上，以 便于从多个角度收集信号。北京芯片EMI诊断辐射发射测试

事实上﹐当然平时的预防保养是很重要的﹐而一旦正确的诊断﹐才能得到快速的痊愈﹐没有正确的诊断﹐找不到病症的源头﹐往往事倍功半而拖延费时。故在EMI的问题上﹐常常看到一个EMI有问题的产品﹐由于未能找到造成EMI问题的关键﹐花了许多时间﹐下了许多对策﹐却始终无法解决﹐其中亦不乏专业的EMI工程师。以往谈到EMI往往强调对策方法﹐甚而视许多对策秘决或绝招﹐然而没有正确的诊断﹐而在产品上加了一大堆EMI压制组件﹐其结果往往只会使EMI情况更糟。浙江集成电路EMI诊断测试仪准峰值根据信号的持续时间和重复率对信号进行加权。

一个实际使用的设备箱体屏蔽效能测试方法与刚才描述的屏蔽盒测试方法相似，小发射天线放在设备箱体外部而不是屏蔽盒内部。发射天线经箱体屏蔽和未屏蔽的两种情况下，用接收天线和频谱分析仪测得的两者之差即屏蔽效能值。如果设备箱体完全是金属或射频密封，它能够很容易地得到100dB以上的屏蔽效能。然而，通常情况下，屏蔽箱体带有开口，如缝隙、未屏蔽的显示屏、非金属区域以及通风口。如果屏蔽效能值没满足要求，这里就可以使用辐射发射测试中描述的故障诊断和检测方法。

各种接头如Keyboard及Power supply常常由于接头的插头与机器上的插座间的密合度不好﹐影响了干扰噪声的辐射。检查的方式可将接头拔掉看噪声是否减小﹐减小表示两种册可﹐一为线上本身辐射干扰﹐另一为接头间接触不好﹐此时插上接头﹐用手销微将接头端左右摇动﹐看噪声是否会减小或消失﹐若会减小可将Keyboard或Power supply的连接头﹐用铜箔胶带贴一圈﹐以增加其和机器接头的密合度﹐这一点也是实测上很容易被疏忽﹐而会误判机器的EMI为何每次测时好时坏﹐或花许多时间在其它的对策上面。许多公司必须在产品设计和测试方面花费大量的人力物力。

EMI诊断可以做到及时发现产品的EMI问题，分析EMI性质及产生原因，给出被测设备电磁兼容特性的定性表述。要解决产品上的EMI问题﹐若能在产品设计之初便加以考虑﹐则可以节省事后再投入许多时间与金钱。由于目前EMI Design-in的观念并不是十分普遍﹐而且由于事先的规划并不能保证其成品可以完全符合电磁干扰的测试在﹐所以如何正确的诊断EMI问题﹐对于设计工程师及EMI工程师是非常重要的。事实上﹐我们如果把EMI当做一种疾病﹐当然平时的预防保养是很重要的﹐而一旦有疾病则正确的诊断﹐才能得到快速的痊愈﹐没有正确的诊断﹐找不到病症的源头﹐往往事倍功半而拖延费时。一致性测试是在远场中进行的，而不是近场。北京芯片EMI诊断辐射发射测试

示波器是硬件设计工程师常用的仪器，它增强了研发阶段的EMI排查能力。北京芯片EMI诊断辐射发射测试

您可能会问：那么我该如何使用EMI滤波器和准峰值（QP）检波器？这取决于您是否在进行一致性测试、预一致性测试或者在做EMI故障排查。EMI类分辨率带宽（RBW）滤波器是窄带的，其滚降方式以6dB为标准，而非3dB。符合标准的准峰值检波器是 根据信号峰值和重复频率进行检测加权从得出峰值的。使用不正确的滤波器和检波器会影响设备返回的幅度值和频率值。在一致性测试中，这两个是强制遵守的标准。然而，对于EMI诊断它们不是决定性的，因为主要目的是从物理上和电气上识别出辐射源。如果没有实际的一致性精度要求，您获得接近的估值已足够用了。北京芯片EMI诊断辐射发射测试

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