ICT测试理论做一些简单介绍1基本测试方法利用运算放大器进行测试。由“A”点“虚地”的概念有：∵Ix=Iref∴Rx=Vs/V0*RrefVs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出V0，则Rx可求出。若待测Rx为电容、电感，则Vs交流信号源，Rx为阻抗形式，同样可求出C或L。隔离（Guarding）上面的测试方法是针对的器件，而实际电路上器件相互连接、相互影响，使Ix笽ref，测试时必须加以隔离（Guarding）。隔离是在线测试的基本技术。在上电路中，因R1、R2的连接分流，无锡ICT治具转接针，使Ix笽ref，无锡ICT治具转接针，无锡ICT治具转接针，Rx=Vs/V0*Rref等式不成立。全自动ICTFCT整体测试线产品优势：品质升---有效提升产品质量保障,减少人工操作失误。无锡ICT治具转接针

ICT流程直通模式： ⑴.产品经过波峰焊，流到皮带线，等待接驳台要板； ⑵.接驳台通过产品检测光电判断是否有产品，若无产品，则向前站皮带线要板，产品流入接驳台，等待后站测试机要板信号，然后阻挡气缸下降，产品流入测试机，阻挡气缸上升。 ⑶. 产品流入测试机，到达测试位时减速至停止到位，轨道气缸下降，测试气缸下降，进行测试，测试完成之后记忆当前产品测试的Pass/Fail结果，测试气缸上升，轨道气缸上升，阻挡气缸打开，产品流出至分选机，并告知当前产品测试结果； ⑷. 产品流入分选机，判断测试结果 若是Pass产品，则流出至后段设备，生产完成； 若是Fail产品，则分选平台上升，当分选平台满料时，则发出声光报警，提示人员手动操作。 无锡ICT治具转接针Inline具有扫描等多种混合测试方式。

系统可以在不上电的条件下测试整块电路板和个别元器件。它使用直流或复杂阻抗的测量结合多点隔离等先进的测量技术，能找到大多数的问题，如短路、开路或者错件等。能在不上电的安全模式下找到主要的错误，又能给出具体的故障诊断信息，提高了维修的效率。 测试系统可以配置 200 到 2000 个测试点。TR-10 测试系统可以加置 功能模块，用于功能测试。大多数标准配置的测试系统包括用于额外隔离电流和继电器驱动测试的功能模块 选择性 CM-3 校准验证模块也可用在 TR-10 系统，以验证TR-10 模块的准确性。如果需要打印出的测试报告，也可提供 CheckSum 可选择的打印机。TR-10 ICT/MDA 测试可检测出SMT元器件的开路和可选用 Agilent TestJet 技术检测电容的极性。MultiWriter 在系统编程也可用于适用于此技术的板子。

DeltaScan技术不需附加夹具硬件，成为首推技术。FrameScan电容藕合测试FrameScan利用电容藕合探测管脚的脱开。每个器件上面有一个电容性探头，在某个管脚激励信号，电容性探头拾取信号。如图所示：1夹具上的多路开关板选择某个器件上的电容性探头。2测试仪内的模拟测试板（ATB）依次向每个被测管脚发出交流信号。3电容性探头采集并缓冲被测管脚上的交流信号。4ATB测量电容性探头拾取的交流信号。如果某个管脚与电路板的连接是正确的，就会测到信号；如果该管脚脱开，则不会有信号。GenRad类式的技术称OpenXpress。原理类似。全自动ICT和FCT测试机功能：线路板的短路故障测试。

ICT的范围及特点检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量，对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试，如所有74系列、Memory类、常用驱动类、交换类等IC。它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏，Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路，元件插错、插反、漏装，管脚翘起、虚焊，PCB短路、断线等故障。ICT在线全自动测试仪,无需人工操作。广州ICT测试机器

Inline系统实现了创新型设计保证夹具易维护和更换。无锡ICT治具转接针

IC烧录程序功能说明 随着MCU，CPLD，DSP，FPGA，FLASH等器件在 产品上的大量应用，每个产品都需要对上面的IC进行烧录，苏州德智电子有限公司在PTI816S上也集成了IC的烧录，可 以让客户把ICT测试和IC烧录两个工位集成到一个工位上来，达 到减员生效的效果。 二：功能参数： 1，目前标配可以支持多八连片烧录 2，支持多连片同时烧录或单片顺序烧录 3，烧录更多连板可以扩展外部模块， 4，支持市面上大部分51,PIC ARM,CPLD,DSP,EPROM,FLASH的烧录， 5，支持市面上大部分通用烧录器接口，如南京西 尔特，洛浦，Phyton，Elnec DATA I/O，PM3,PM4, DEDIPROG, DATAMAN 6,灵活定义启动测试，结果信号电平，灵活定义 延时时间。 无锡ICT治具转接针

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