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扬州智能ICT 苏州市德智电子供应

信息介绍 / Information introduction

ICT,In-CircuitTest,是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。它主要检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况,具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点,扬州智能ICT。ICT基本只进行静态的测试,优点是不需制作夹具,程序开发时间短,扬州智能ICT。针床式ICT可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试,扬州智能ICT,故障覆盖率高,但对每种单板需制作的针床夹具,夹具制作和程序开发周期长。ICT的范围及特点检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。全自动ICTFCT整体测试线产品优势:可通过客户现有所有气缸下压式ICT/FCT品牌改造。扬州智能ICT

ICT在线测试机的优点 1. 产量增加:ICT在线测试仪的检测速度非常快,如300个元件的线路板约3秒钟全部检测,比人工检测时间缩短,产量可提高。 2. 降低成本: A. 使维修工作简单化,维修速度加快,减少维修人员,降低维修成本 B.降低因误判而损坏的元件成本 C.减少维修备品库存 3. 使产品一次良品率提高:提供大量的统计数据,以便生产管理者对生产工艺进行及时监督,调整,管理。 4. 减少误判错误:ICT对错误检测将准确稳定,避免人员对故障的错误猜测。 5. 减少操作费用:ICT是一次性对整板进行测试,也可以同时测试多块联板,只需一个操作员工。 6. 产品经过ICT测试以后,为后段的功能测试扫除一切隐藏性问题. 7. 现代化的电子生产线,拥有ICT进行测试,是产品质量优良的卡片!是您接单的得力助手,是客户发单的信心保证 深圳ICT试验仪器设备IN Line ICT+双层FCT自动测试线功能特点:可以配备全自动上板机上板。

由“A”点“虚地”的概念有:∵Ix=Iref∴Rx=Vs/V0*RrefVs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出V0,则Rx可求出。若待测Rx为电容、电感,则Vs交流信号源,Rx为阻抗形式,同样可求出C或L。隔离(Guarding)上面的测试方法是针对的器件,而实际电路上器件相互连接、相互影响,使Ix笽ref,测试时必须加以隔离(Guarding)。隔离是在线测试的基本技术。在上电路中,因R1、R2的连接分流,使Ix笽ref,Rx=Vs/V0*Rref等式不成立。测试时,只要使G与F点同电位,R2中无电流流过,仍然有Ix=Iref,Rx的等式不变。将G点接地,因F点虚地,两点电位相等,则可实现隔离。实际实用时。

电气测试使用的基本仪器是ICT在线测试仪,传统的在线测试仪测量时使用专门的针床与已焊接好的线路板上的元器件接触,并用数百毫伏电压和 10毫安以内电流进行分立隔离测试,从而精确地测出所装电阻、电感、电容、二极管、三极管、可控硅、场效应管、集成块等通用和特殊元器件的漏装、错装、参 数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障,并将故障是哪个元件或开短路位于哪个点准确告诉用户。   基本的ICT近年来随着克服先进技术技术局限的技术而改善。例如,当集成电路变得太大以至于不可能为相当的电路覆盖率提供探测目标时,ASIC工程师开发了边界扫描技术。边界扫描提供一个工业标准方法来确认在不允许探针的地方的元件连接。额外的电路设计到IC内面,允许元件以简单的方式与周围的元件通信,以一个容易检查的格式显示测试结果。   PCBA贴片线需要ICT和FCT测试系统来满足100%测试覆盖率和提高产品可靠性。

首先定义了组成测试访问端口(TAP)的四(五〕个管脚:TDI、TDO、TCK、TMS,(TRST)。测试方式选择(TMS)用来加载控制信息;其次定义了由TAP控制器支持的几种不同测试模式,主要有外测试(EXTEST)、内测试(INTEST)、运行测试(RUNTEST);后提出了边界扫描语言(BoundaryScanDescriptionLanguage),BSDL语言描述扫描器件的重要信息,它定义管脚为输入、输出和双向类型,定义了TAP的模式和指令集。具有边界扫描的器件的每个引脚都和一个串行移位寄存器(SSR)的单元相接,称为扫描单元,扫描单元连在一起构成一个移位寄存器链,用来控制和检测器件引脚。其特定的四个管脚用来完成测试任务。客户可根据实时测试需求灵活调整配置。扬州智能ICT

Inline系统实现了设计紧凑,节省产线宝贵空间。扬州智能ICT

ICT测试仪开/短路测试程序的调试 生成开/短路测试数据文件后,为稳定及保险起见,请在开/短路自学习完毕后选择Test对本开/短路测试程序进行测试。 测试时机器会先作开路测试(Open Test),它是在同一链上,针号与针号作开路测试;后作短路测试(Short Test),它是在不同链上针号与针号作短路测试。 在开路测试时,针号与针号的电阻若少于开路门槛值(Open Res),则当作短路,此时开路测试Pass;在短路测试时,针号与针号的电阻若大于短路门槛值(Short Res),则当作开路,此时短路测试Pass。 测试后若程序稳定,则屏幕左下角推出“PASS”,请下压针床压头来回几次及测试几次,以观察其是否稳定,若出现“FAIL”,则作以下处理: A、 彻底检查显示出的测试针(针号)是否接触不良 B、在保证测试针接触良好的情况下,若出现测试时好时坏,则查清是否受电感线圈的影响,如果是,则跳过显示出的针号,操作方法:确认光标在要跳过的针号项时选择O/S Edit/Mask,这时针号项会变成红色,表明已跳过这一针号。 扬州智能ICT

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